S
stuck_adc
Guest
M. MAHONEY DSP-baseret testning af Analog og mixed-signal kredsløb IEEE Computer Society Press, 1990.
B. Ayari, N. Ben-Hamida og B. Kaminska, Automatisk Test Vector Generation for blandede signaler Kredsløb, den europæiske konference om Design Automation, PARIS, Marsh 1995, s..458-463.
MV Bossche, Schoukens, og J. Rennboog Dynamisk testning og diagnosticering af A / D omdannere IEEE Transaktioner på kredsløb og systemer, august 1986, s..775-785.
A. Charoenrook og M. Soma A fejldiagnose Technique for Flash ADC s, International Test Conference 1993, s..
MF WAGDY Diagnosticering ADC onlinearity på Bit Niveau IEEE iransactions om instrumentering og Målinger, december 1989, pp.1139-1141.
J. BLAIR Histogram Måling af ADC Nonlinearities bruger Sine
Waves IEEE Transaktioner på Instrumentation og Målinger, juni
1994, pp.373-383.
MF WAGDY og SS Awad Afgøre ADC faktiske antal
bits Via Histogram Testning IEEE Transaktioner på Instrumentation
og Målinger, august 1991, s..770-772.
B. Ayari, N. Ben-Hamida og B. Kaminska, Automatisk Test Vector Generation for blandede signaler Kredsløb, den europæiske konference om Design Automation, PARIS, Marsh 1995, s..458-463.
MV Bossche, Schoukens, og J. Rennboog Dynamisk testning og diagnosticering af A / D omdannere IEEE Transaktioner på kredsløb og systemer, august 1986, s..775-785.
A. Charoenrook og M. Soma A fejldiagnose Technique for Flash ADC s, International Test Conference 1993, s..
MF WAGDY Diagnosticering ADC onlinearity på Bit Niveau IEEE iransactions om instrumentering og Målinger, december 1989, pp.1139-1141.
J. BLAIR Histogram Måling af ADC Nonlinearities bruger Sine
Waves IEEE Transaktioner på Instrumentation og Målinger, juni
1994, pp.373-383.
MF WAGDY og SS Awad Afgøre ADC faktiske antal
bits Via Histogram Testning IEEE Transaktioner på Instrumentation
og Målinger, august 1991, s..770-772.