Hjælp S-parameter test problem

[CQCQ]

Jeg har en FET's S2P fil afprøves under fælles kilde config.Now Jeg har nogle problemer med it.As det billede, jeg har tilføje en modstand mellem kilde-og GND, og tilføje en anden modstand mellem DRÆN (output) og GATE (input) , Fordi DRÆN ikke er direkte forbundet med GND, og der er en vekselvirkning mellem DRÆN og GATE, jeg vil gerne vide, om dette config er gyldigt i mine testet S2P fil?

<img src="http://images.elektroda.net/7_1208782955.jpg" border="0" alt="help S-parameter test problem" title="Hjælp S-parameter test problem"/>

 

[Sergio Mariotti]

Det er svært for mig at forstå dit problem, jeg prøve en generisk svar.

Som De ved, det er par helt beskrive den adfærd i de respektive netværk (FET for eksempel).
Uanset hvad der er sluttet uden for reference fly af netværksporte.

Så hvis du har målt Spar af FET (FET alene - fælles kilde), kan du lægge det på både virtuelt kredsløb (ADS) eller fast kredsløb og udføre målingen.

Et andet scenario (reverse engineering).I reelle tilfælde, hvis du, godt hjulpet af en VNA, kan måle Spar på dit kredsløb og dit mål er at få FET rundholt kan du sætte den målte Spar på banen i en simulator, og tilføjer:
en modstand af værdi-R12 over GND linje
en modstand af værdi-R13 mellem ind og ud.
og udføre simuleringen, er resultatet Spar i FET

Jeg håber, at dette hjælpe dig