T
tavidu
Guest
Der er DDR2-controller i chippen, der kører på omkring 333MHz.
Nogen gøre DFT for sådanne høj hastighed interface?
Nogen gøre DFT for sådanne høj hastighed interface?
Navigation
Install the app
How to install the app on iOS
Follow along with the video below to see how to install our site as a web app on your home screen.
Note: This feature may not be available in some browsers.
More options
You are using an out of date browser. It may not display this or other websites correctly.
You should upgrade or use an alternative browser.
You should upgrade or use an alternative browser.
H
hawk_chenbo
Guest
ATE ur freqency er lav, typisk 10M.Så du kan møde setup tid, behøver du kun at overveje holde gang.
C
chandhramohan
Guest
Hej,
Yo kan gøre DFT for DDR2 / HSS / SerDes.Men nogle særlig pleje skal tages.Hvad så JTAG er bekymret du nødt til at overveje TX & RX linjer som ur og tilføje hensigtsmaessigt Boundary Scan celle for disse ben.Special puder skal tilføjes som kan støtte denne frekvens.
Overvejende din DDR makro vil blive DFT indsat en.Henvises til databladet for testsignaler & scan kæde havne osv.
Håber du får en ide.
Hilsen
Chandhramohan
Yo kan gøre DFT for DDR2 / HSS / SerDes.Men nogle særlig pleje skal tages.Hvad så JTAG er bekymret du nødt til at overveje TX & RX linjer som ur og tilføje hensigtsmaessigt Boundary Scan celle for disse ben.Special puder skal tilføjes som kan støtte denne frekvens.
Overvejende din DDR makro vil blive DFT indsat en.Henvises til databladet for testsignaler & scan kæde havne osv.
Håber du får en ide.
Hilsen
Chandhramohan
D
dr_dft
Guest
Afprøvning DDR/DDR2 er en Challange på de fleste testere, da de traditionelle testere er cyklus baseret, og kan ikke beskæftige sig med kilde synkrone grænseflader for godt.
Der er en ekstra kompleksitet til disse enheder, de data strobe signal, som fungerer som en 'kilde synkron ur "for de data, er faktisk tovejs.
Der er flere løsninger på dette problem, der spænder fra at bruge en tester, der kan håndtere kilde synkrone udstyr (kan blive dyrt) at tilføje til BIST kredsløb for at teste interface.
Du kan være i stand til at få bedre svar på http://www.DFTforum.com.
Der er en ekstra kompleksitet til disse enheder, de data strobe signal, som fungerer som en 'kilde synkron ur "for de data, er faktisk tovejs.
Der er flere løsninger på dette problem, der spænder fra at bruge en tester, der kan håndtere kilde synkrone udstyr (kan blive dyrt) at tilføje til BIST kredsløb for at teste interface.
Du kan være i stand til at få bedre svar på http://www.DFTforum.com.