Spørgsmål om Electromigration

[Prasanna Kumar]

Hej, hvordan kan vi sammenligne electromigration i submicron trechnology og dybe submicron teknologi. 1. EM aoocurs både i submicron samt Deep submicron, men effekten er negativ i DSM, hvordan kan vi retfærdiggøre det. fx: For submicron Process Jeg har en aktuel på f.eks 5milliamps at passere, kan jeg bruge en 5um tyk metal linje, kan det gøres på samme måde i DSM også, men hvordan kan vi retfærdiggøre, at EM er mere i DSM end submicron proces. Jeg ville være dejligt, hvis nogen forklarer dette (detail please) Tak på forhånd.

 

[uncle_urfi]

God artikel, www.accoladeeng.com / memory_module_reliability_qualification.pdf Søg efter EM, det er en bekymring område: www.starc.jp/univ/joint/rm/rm2001-...trømtæthed på kritiske forbindelsesledninger.